专利名称：检测电路和使用该检测电路的电子装置专利类型：发明专利发明人：野田一平
申请号：CN200880000884.3申请日：20080716公开号：CN101548466A公开日：20090930
摘要：公开了一种检测电路，及使用该检测电路的电子装置。在该检测电路中，当通过由电阻器对输入电压Vin进行分压而获得的输入检测电压Vsns等于参考电压Vref或更大并且由于低的温度、温度检测电压Tsns等于参考电压Vref或更大时，来自比较器的检测信号SNS变成高电平。另外，当输入检测电压Vsns小于参考电压Vref和/或由于高的温度、温度检测电压Tsns小于参考电压Vref时，来自比较器的检测信号SNS变成低电平。
申请人：株式会社理光
地址：日本东京都
国籍：JP
代理机构：北京市柳沈律师事务所
代理人：黄小临
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